當機械零件喪失它應有的功能后,則稱該零件失效。造成失效的原因有很多,如斷裂、變形、表面磨損等。所謂失效,主要指零件由于某種原因,導致其尺寸、形狀或材料的組織與性能的變化而喪失其規(guī)定功能的現(xiàn)象。為幫助大家深入了解,本文將對零件失效分析的相關知識予以匯總。如果您對本文即將要涉及的內容感興趣的話,那就繼續(xù)往下閱讀吧。


IC芯片,英文名Integrated Circuit Chip,就是是將大量的微電子元器件(晶體管、電阻、電容等)形成的集成電路放在一塊塑基上,從而做成一塊芯片。目前IC芯片的質量對整個電子產(chǎn)品的作用非常大,它直接影響著整個產(chǎn)品上市后的質量問題。那么對于采購人員而已,如何正確的檢測IC芯片質量的好壞?本文簡單介紹幾種方法。


金屬在外加載荷的作用下,當應力達到材料的斷裂強度時,發(fā)生斷裂。金屬材料的斷裂過程一般有三個階段,即裂紋的萌生,裂紋的亞穩(wěn)擴展及失穩(wěn)擴展,最后是斷裂。金屬構件可能在材料制造、構件成形或使用階段的不同條件下啟裂、萌生裂紋;并受不同的環(huán)境因素及承載狀態(tài)的影響而使裂紋擴展直至斷裂。


機械零件由于某些原因喪失工作能力或達不到設計要求性能時,稱為失效。機械零件的失效并不是單純意味著破壞,可歸納為三種情況:完全不能工作;雖然能工作,但性能惡劣,超過規(guī)定指標;有嚴重損傷,失去安全工作能力。為了預防零件失效,需對零件進行失效分析,即通過判斷零件失效形式、確定零件失效機理和原因,有針對性地進行選材、確定合理的加工路線,提出預防失效的措施。


電容器是電路或電力設備中不可缺少的一部分。而且電容器的種類很多,瓷片電容器就是其中之一。電容之所以會漏電,因為電容兩極之間的介電材質不可能是絕對絕緣的,只能是相對絕緣,因此有些電容存在漏電流。


場效應管英文縮寫為FET,可分為結型場效應管(JFET)和絕緣柵型場效應管(MOSFET),我們平常簡稱為MOS管。而MOS管又可分為增強型和耗盡型而我們平常主板中常見使用的也就是增強型的MOS管。場效應管由多數(shù)載流子參與導電,它屬于電壓控制型半導體器件。具有輸入電阻高(107~1015Ω)、噪聲小、功耗低、動態(tài)范圍大、易于集成、沒有二次擊穿現(xiàn)象、安全工作區(qū)域寬等優(yōu)點,現(xiàn)已成為雙極型晶體管和功率晶體管的強大競爭者。


性能檢測的基本原則是:越早發(fā)現(xiàn)問題,越容易定位問題,也越容易修復問題。因此,性能檢測可以貫穿軟件研發(fā)生命周期的各個階段,比如:單元測試可以測試多線程并發(fā)下的功能準確性,每個 API 也都需要進行性能檢測和評估,集成測試時需要顧及所用模塊的數(shù)據(jù)大小及緩存使用情況,系統(tǒng)測試中也需要從用戶負載的角度衡量相關的全局性能指標等等。那么,什么時候開展性能檢測?性能檢測的目的是什么?


任何任務都要先確認任務的目標是什么,如果不知道目標,任何努力的結果都可能不是最終想要的結果。性能測試也是如此,總結以往雖然測試人員自始至終對測試工作都做到了認真負責,但測試報告出爐后,大家總覺得美中不足,對測試結果都心存疑慮,尤其在那些時間跨度較長、針對不同的測試對象的性能對比測試中,或多或少都存在以下幾個方面的問題:


微控制單元(Microcontroller Unit;MCU) ,又稱單片微型計算機(Single Chip Microcomputer )或者單片機,是把中央處理器(Central Process Unit;CPU)的頻率與規(guī)格做適當縮減,并將內存(memory)、計數(shù)器(Timer)、USB、A/D轉換、UART、PLC、DMA等周邊接口,甚至LCD驅動電路都整合在單一芯片上,形成芯片級的計算機,為不同的應用場合做不同組合控制。


CNAS認證屬于什么認證?CNAS(英文全稱為:China National Accreditation Service for Conformity Assessment)是中國合格評定國家認可委員會的簡稱,是國家行政部門授權的國家認可機構,負責對相關的實驗室、檢測機構進行檢測資質認定,對檢測環(huán)境和檢測能力達標的機構或者實驗室授予CNAS檢測資質。

