芯片是現(xiàn)代電子設(shè)備中至關(guān)重要的組成部分,它們被廣泛應(yīng)用于計算機(jī)、手機(jī)、平板電腦、智能家居等各種設(shè)備中。由于各種原因,芯片可能會出現(xiàn)故障或損壞,這將導(dǎo)致設(shè)備無法正常工作。本文將探討芯片故障及損壞情況的分析,以及如何進(jìn)行檢測和維修。


在電子工程領(lǐng)域中,元器件失效是一件常見的事情。當(dāng)元器件失效時,會對整個電子設(shè)備的性能和可靠性產(chǎn)生嚴(yán)重的影響。因此,進(jìn)行元器件失效分析是非常重要的。然而,要進(jìn)行有效的失效分析并不容易,需要考慮許多因素。本文將介紹進(jìn)行元器件失效分析時需要注意的三個關(guān)鍵問題,以幫助工程師們更好地進(jìn)行失效分析,提高電子設(shè)備的可靠性和性能。


BGA(Ball Grid Array)是一種常見的電子元器件封裝方式,其焊接質(zhì)量直接影響著電子產(chǎn)品的性能和可靠性。虛焊是BGA焊接過程中常見的一種缺陷,會導(dǎo)致焊點(diǎn)與焊盤之間的接觸不良,進(jìn)而影響產(chǎn)品的電性能和機(jī)械強(qiáng)度。本文將介紹BGA虛焊的原因及其控制方法,幫助讀者更好地了解和解決相關(guān)問題。


冷熱沖擊測試,又名溫度沖擊、耐熱沖擊測試等,模擬樣品在溫度劇變或高低溫交替變化環(huán)境的測試。電子產(chǎn)品在使用過程中,經(jīng)常會遇到溫度變化,如高溫、低溫和溫度變化的快速轉(zhuǎn)換等。這些溫度變化可能會對電子產(chǎn)品的性能和可靠性產(chǎn)生影響,因此需要對電子產(chǎn)品進(jìn)行冷熱沖擊測試。本文將介紹電子產(chǎn)品冷熱沖擊的原理及標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。


BGA錫球焊接是電子制造中常見的一種連接方式,但是在焊接過程中可能會出現(xiàn)不良現(xiàn)象,導(dǎo)致電子產(chǎn)品的性能和可靠性受到影響。本文將介紹幾種常見的BGA錫球焊接不良判定方法,幫助讀者更好地了解和解決相關(guān)問題。


掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),利用電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號來觀察樣品表面的形貌、結(jié)構(gòu)和成分等。本文將介紹掃描電子顯微鏡的原理和應(yīng)用。


濕氣敏感器件是指由吸濕材料(如:環(huán)氧樹脂,聚合樹脂等)等封裝的電子元器件。濕氣敏感等級(在電子行業(yè)中稱之為MSL)定義用于回流焊工藝,一個元器件可以暴露在不高于華氏30℃,60-85%相對濕度的環(huán)境中的最長安全時間。該范圍從MSL 1開始,稱之為“無限制”或不受影響,而每個增量級別則表示一個持續(xù)的時間閾值。


焊點(diǎn)的質(zhì)量對決定SMT部件的可靠性和性能非常重要,BGA焊點(diǎn)的質(zhì)量應(yīng)該是關(guān)鍵。因此,采取有效措施確保BGA部件的焊點(diǎn)質(zhì)量,實(shí)現(xiàn)SMT部件的最終可靠性非常重要。本文將介紹BGA焊接質(zhì)量檢查的常見方法。


元器件DPA(Destructive Physical Analysis)檢測是一種通過對元器件進(jìn)行物理分析,確定其失效的原因和機(jī)理的方法。在電子產(chǎn)品制造和維修過程中,元器件的失效可能會導(dǎo)致整個電路的失效,影響整個電子產(chǎn)品的性能和可靠性。因此,對于元器件的DPA檢測顯得尤為重要。


在PCBA加工中,BGA焊接是一個關(guān)鍵的工序。然而,由于BGA焊接后的檢查和維修相對困難,必須使用X射線透視來確保焊接連接的可靠性。因此,在PCBA加工中,對BGA焊接的不良診斷至關(guān)重要,特別是在回流焊接過程中。本文將介紹BGA焊接不良的判定方法與處理。




