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晶振的好壞直接關(guān)系整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性，故如何選擇一顆晶振，怎么看晶振的主要參數(shù)，是工程師的必修課，參數(shù)的選擇關(guān)系到系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行，具體選擇不僅僅需要對(duì)晶振參數(shù)的詳細(xì)把控，也要不同參照不同系統(tǒng)的要求。晶振在電路中的作用是為數(shù)字系統(tǒng)提供基本的頻率信號(hào)，如果晶振不起振，MCU就會(huì)停止運(yùn)行，導(dǎo)致整個(gè)電路失效。

2022-06-02 15:47:54

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工業(yè)CT是工業(yè)用計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)的簡(jiǎn)稱(chēng)，它能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀(guān)地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況，被譽(yù)為當(dāng)今最佳無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)估技術(shù)。工業(yè)CT技術(shù)涉及了核物理學(xué)、微電子學(xué)、光電子技術(shù)、儀器儀表、精密機(jī)械與控制、計(jì)算機(jī)圖像處理與模式識(shí)別等多學(xué)科領(lǐng)域，是一個(gè)技術(shù)密集型的高科技產(chǎn)品。

2022-06-02 15:30:08

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在對(duì)電子器件小型化要求不斷提高的情況下，單片功能不斷增加。目前的工藝中，為保證芯片的質(zhì)量，一般都是從設(shè)計(jì)成型到大規(guī)模生產(chǎn)的過(guò)程中進(jìn)行芯片檢測(cè)。而傳統(tǒng)的芯片調(diào)試技術(shù)是在芯片功能基礎(chǔ)上增加一套以功能為導(dǎo)向的測(cè)試程序，它一般只能檢測(cè)芯片有無(wú)錯(cuò)誤或故障，無(wú)法在芯片終端上精確地定位出錯(cuò)誤，只有根據(jù)檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)來(lái)判斷，這樣就會(huì)造成芯片檢測(cè)速度慢、效率低。由于每個(gè)功能元件都有其自身的測(cè)試要求，設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃。

2022-06-01 15:20:14

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CNAS標(biāo)志是Chinanationalaccreditationserviceforconformityasssment(中國(guó)國(guó)家認(rèn)證委員會(huì)合格評(píng)估)的縮寫(xiě)。根據(jù)評(píng)論。監(jiān)督質(zhì)量認(rèn)證組織(如權(quán)威認(rèn)證.實(shí)驗(yàn)室.檢驗(yàn)組織)的管理方法和主題活動(dòng)，確定其是否有實(shí)力開(kāi)展相對(duì)質(zhì)量認(rèn)證主題活動(dòng)(如驗(yàn)證、檢驗(yàn)、校正、檢驗(yàn)等)。

2022-06-01 15:10:57

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高低溫測(cè)試又叫作高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)?；旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化，時(shí)高時(shí)低。這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響，會(huì)加速產(chǎn)品的老化，縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長(zhǎng)期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下，則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測(cè)試。高低溫試驗(yàn)是產(chǎn)品可靠性的必測(cè)項(xiàng)目，那么高低溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品到底有哪些影響？

2022-06-01 14:49:49

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隨著材料技術(shù)、元器件技術(shù)和電子學(xué)設(shè)計(jì)技術(shù)的不斷發(fā)展，電子產(chǎn)品的功能越來(lái)越復(fù)雜、集成度越來(lái)越高，對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性也提出了更高的要求。提高產(chǎn)品的可靠性，使其發(fā)揮最佳性能，是提升一個(gè)電子產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)鍵因素，也直接影響著最終用戶(hù)的評(píng)價(jià)。電子產(chǎn)品的可靠性提升是一個(gè)極其重要且具備極大挑戰(zhàn)的工作，從某種意義上說(shuō)，提高了產(chǎn)品的可靠性也就提高了產(chǎn)品的核心競(jìng)爭(zhēng)力，科技進(jìn)步的體現(xiàn)就是產(chǎn)品質(zhì)量的升級(jí)及可靠性的提高。

2022-06-01 14:43:55

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什么是無(wú)鉛焊料？常用無(wú)鉛焊料成份Zn可降低Sn的熔點(diǎn)，若Zn增加高于9%后，熔點(diǎn)會(huì)上升，Bi跟著降低Sn-Zn，但隨著B(niǎo)i的增加，其脆性也會(huì)增大。此類(lèi)是目前最常用的一種無(wú)鉛焊料，它的性能比較穩(wěn)定，各種焊接參數(shù)特性接近有鉛焊料。雖然In可使Sn合金的液相線(xiàn)和固相線(xiàn)降低，但是它的耐熱疲勞性、延展性、合金變脆性、加工性差等缺陷，所以目前很少使用此配方。

2022-05-31 15:45:00

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視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)是指對(duì)產(chǎn)品外觀(guān)瑕疵缺陷的檢測(cè)，是采用先進(jìn)的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)，對(duì)工件表面的污點(diǎn)、劃痕、斑點(diǎn)、凹凸、孔洞、褶皺、缺損、氣泡等缺陷進(jìn)行檢測(cè)。工業(yè)自動(dòng)化生產(chǎn)領(lǐng)域中，視覺(jué)外觀(guān)檢測(cè)可以說(shuō)是最核心的一個(gè)部分。無(wú)論是從物體到條碼識(shí)別，還是產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)和外觀(guān)尺寸測(cè)量，視覺(jué)外觀(guān)檢測(cè)技術(shù)都發(fā)揮了重要的作用，所以它的應(yīng)用范圍也非常的廣泛，下面就為大家簡(jiǎn)單介紹幾種常見(jiàn)的應(yīng)用場(chǎng)景。

2022-05-31 15:37:19

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隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的日新月異，微細(xì)間距器件發(fā)展起來(lái)，組裝密度越來(lái)越高，誕生了新型SMT、MCM技術(shù)，微電子器件中的焊點(diǎn)也越來(lái)越小，而其所承載的力學(xué)、電學(xué)和熱力學(xué)負(fù)荷卻越來(lái)越重，對(duì)可靠性要求日益提高。電子封裝中廣泛采用的SMT封裝技術(shù)及新型的芯片尺寸封裝（CSP）、焊球陣列（BGA）等封裝技術(shù)均要求通過(guò)焊點(diǎn)直接實(shí)現(xiàn)異材間電氣及剛性機(jī)械連接（主要承受剪切應(yīng)變），它的質(zhì)量與可靠性決定了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

2022-05-31 15:30:41

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產(chǎn)品表面缺陷檢測(cè)屬于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的一種，就是利用機(jī)器視覺(jué)模擬人類(lèi)視覺(jué)的功能，從具體的實(shí)物進(jìn)行圖像的采集處理、計(jì)算、最終進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)、控制和應(yīng)用。當(dāng)今消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品的消費(fèi)者們都期待開(kāi)箱看到完美無(wú)瑕的產(chǎn)品。有劃痕、凹凸不平和帶有其他瑕疵的產(chǎn)品會(huì)造成代價(jià)高昂的退貨，還可能有損品牌聲譽(yù)和未來(lái)的業(yè)務(wù)。

2022-05-31 15:27:31

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