常見的IC失效模式:靜電損傷、金屬電遷移、芯片粘結(jié)失效、過電應力損失、金屬疲勞、熱應力、電遷移失效、物理損傷失效、塑料封裝失效、引線鍵合失效。說到MLCC失效原因,在產(chǎn)品正常使用情況下,失效的根本原因是MLCC 外部或內(nèi)部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產(chǎn)品的電性能、可靠性,給產(chǎn)品質(zhì)量帶來嚴重的隱患。


虛焊是焊點處只有少量的錫焊柱,造成接觸不良,時通時斷。虛焊與假焊都是指焊件表面沒有充分鍍上錫層,焊件之間沒有被錫固住,是由于焊件表面沒有清除干凈或焊劑用得太少以及焊接時間過短所引起的。


芯片作為電子產(chǎn)品的核心部件,其性能越來越趨于精益求精,為保證芯片質(zhì)量,人們都采用了有效的測試技術對芯片進行功能測試。芯片的主要作用是完成運算,處理任務。芯片是指含有集成電路的硅片,目前的工藝中,為保證芯片的質(zhì)量,一般都是從設計成型到大規(guī)模生產(chǎn)的過程中進行芯片檢測。


可靠性試驗,是指通過試驗測定和驗證產(chǎn)品的可靠性。研究在有限的樣本、時間和使用費用下,找出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)??煽啃栽囼炇菫榱私?、評價、分析和提高產(chǎn)品的可靠性而進行的各種試驗的總稱。主要是為預測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況,選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應力后,設定環(huán)境應力程度與施加的時間,主要目的是盡可能在短時間內(nèi),正確評估產(chǎn)品可靠性。


斷路器是指能夠開關、承載以及開斷正?;芈窢顟B(tài)下的電流并且能在規(guī)定的時間里斷開異?;芈废碌碾娏鞯拈_關裝置,也可以用來分配電能,不頻繁地啟動異步電動機,對電源線路和電動機等實行保護,當它們發(fā)生嚴重的過載又或者短路和欠壓等故障時能自動切斷電路,其功能相當于熔斷器式開關與過欠熱繼電器等的組合設備。它們一般由觸頭系統(tǒng)、滅弧系統(tǒng)、操作機構(gòu)、脫扣器、外殼等構(gòu)成的。


為了測定、驗證或提高產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗,它是產(chǎn)品可靠性工作的一個重要環(huán)節(jié)。而質(zhì)量檢測是指產(chǎn)品的各項特性是否與指定的標準相符,主要考量符合性,可靠性測試一般是階段性的,而質(zhì)量檢測是例行性的。


Q:接觸電流的分類 A:對于不同結(jié)構(gòu)的電子產(chǎn)品,接觸電流的量測也是有不同的要求,但總括來說接觸電流可分為對地接觸電流Ground Leakage Current、表面對地接觸電流Surface to Line Leakage Current以及表面間接觸電流Surface to Surface Leakage Current測試三種。


冷熱沖擊測試又名溫度沖擊測試或高低溫沖擊測試,是用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應性,是裝備設計定型的鑒定測試和批產(chǎn)階段的例行測試中不可缺少的測試,在有些情況下也可以用于環(huán)境應力篩選測試??梢哉f冷熱沖擊測試箱在驗證和提高裝備的環(huán)境適應性方面應用的頻度僅次于振動與高低溫測試。


隨著汽車產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,車身控制電子、娛樂多媒體電子、導航及車載通信等電子部件越來越多,使車輛復雜程度不斷加大,而且汽車使用的環(huán)境特別嚴酷,例如:各種各樣的氣候環(huán)境、污染越來越嚴重的大氣環(huán)境、顛簸復雜的路面及各種各樣的無線電干擾,都在考驗著汽車電子產(chǎn)品的可靠性。


電容是用來表征電子元件在一定電位差下的儲能能力。當導體之間填充介質(zhì)時,電荷在電場的激活下移動。介質(zhì)會限制移動,因此電荷會累積并存儲在驅(qū)動器中。電容器就是儲存電量和電能(電勢能)的元件。兩個相互靠近的導體,中間夾一層不導電的絕緣介質(zhì),就構(gòu)成了電容器。當電容器的兩個極板之間加上電壓時,就會儲存電荷。電容器在調(diào)諧、旁路、耦合、濾波等電路中起著重要的作用。

